产品列表PRODUCTS LIST

首页>产品中心>冷热冲击试验箱(TS系列)>三箱式冲击试验箱>TSD-100F-2P高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装

高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装

型号:TSD-100F-2P

浏览量:1478

更新时间:2024-09-14

价格:58200

简要描述:

高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装
冷热冲击实验箱也叫冷热冲击机,适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

在线留言
高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装
品牌HT/皓天价格区间10万-20万
产地类别国产应用领域电子,航天,制药,汽车,电气

高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装


高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室,蓄热室和试验室,产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室,是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换,产品放在提篮里,是随提篮一起移动的。



高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装

高低温冲击试验箱执行与满足标准:

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. GJB150.3-86;

5. 军标GJB150.4-86;

6. 军标GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。


三箱式冷热冲击试验箱详情页源文件_18.jpg


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
在线咨询