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型号:TSD-100F-2P
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更新时间:2024-09-14
价格:58200
高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装冷热冲击实验箱也叫冷热冲击机,适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
品牌 | HT/皓天 | 价格区间 | 10万-20万 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 电子,航天,制药,汽车,电气 |
高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装
高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室,蓄热室和试验室,产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室,是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换,产品放在提篮里,是随提篮一起移动的。
高低温冷热冲击试验箱半导体芯片封装
高低温冲击试验箱执行与满足标准:
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;
4. 军标GJB150.3-86;
5. 军标GJB150.4-86;
6. 军标GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86温度冲击试验;
8、GJB360.7-87温度冲击试验;
9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
11、GB/T 2423.22-2002温度变化;
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。